“色散力与NEMS国际会议”邀请赵亚溥作特邀报告
发布时间:2006-11-02【字体: 大 中 小 】
“色散力和纳电子机械系统(Dispersion Forces and Nano-Electro-Mechanical Systems)”国际会议将于2006年12月11-15日在荷兰“罗伦兹中心”召开。该会在国际上邀请多位该领域中有影响的学者作一小时大会特邀报告,其中我所赵亚溥研究员被邀请做题为“色散力下NEMS开关的吸合与稳定性分析(Pull-in and stability analyses of NEMS switches due to dispersion forces)”的一小时大会特邀报告。
纳电子机械系统(NEMS)是近年来随着纳米技术和微电子机械系统(MEMS)的迅猛发展而发展起来的,由于特征尺度在纳米量级,所以色散力在NEMS中有着重要的影响。本次国际研讨会的四个主题是:
(1) 表面粗糙度、温度、有限传导率、表面等离激元、电磁效应对Casimir-van der Waals力相互作用的影响;
(2) 传导性质变化(从金属到绝缘体)以及边界效应对Casimir力的影响;
(3) 色散力对电容型MEMS/NEMS吸合/张开性质、粘附问题的影响;
(4) 微尺度力学以及纳米尺度测量。
赵亚溥研究员的课题组近年来围绕MEMS/NEMS中的色散力的作用以及粘附问题开展了系统的研究。一方面被国际学术期刊邀请撰写综述,另一方面被邀请在多个国内外会议上作大会报告。