生 产 厂 家: | JEOL 日本电子 |
仪器管理员: | 周玲玲 |
电 话: | 010-82543921 |
邮 箱: | llzhou@lnm.imech.ac.cn |
安 放 地 点: | 1-138D |
规格型号
JEM 2100F
主要功能与特色
适用于金属、陶瓷、半导体等块体材料、纳米线、纳米颗粒的结构及缺陷观察。可拍摄明场像、暗场像、电子衍射谱、高分辨像;配备能谱仪,可进行元素成分的点、线、面分析;配备原位力学实验平台,可进行原位压缩实验
关键技术指标
点分辨率0.23 nm,线分辨率0.1 nm
放大倍数50-1,500,000
样品计费:形貌观察1000/小时; 附加功能1200/小时
预约方式
电话预约
典型案例
(1) 高分辨电子像下的原子排列特征
(2) 明场像下的晶粒及晶内位错特征